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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1999.9
- 수록면
- 1,177 - 1,184 (8page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (4)
1997
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
박종욱
,
박경태
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.11
학술대회자료
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.11
학술대회자료
구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
박종욱
,
박경택
,
박성주
한국정보과학회 학술발표논문집
1997.10
학술대회자료
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본 논문에서는 스캔플립프롭 선택 시간이 짧고 높은 고장 검출률(fault coverage)을 얻을 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 설계 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔 설계로 인한 추가영역을 최소화 하고 최대의 고장 검출률을 목표로 하는 부분스캔 기술은 크게 구조분석과 테스트 가능도(testability)에 의한 설계 기술로 나누어 볼 수 있다. 구조분석에 의한 부분스캔은 짧은 시간에 스캔플립프롭을 선택할 수 있지만 고장 검출률은 낮다. 반면 테스트 가능도에 의한 부분스캔은 구조분석에 의한 부분스캔보다 스캔플립프롭의 선택 시간이 많이 걸리는 단점이 있지만 높은 고장 검출률을 나타낸다. 본 논문에서는 구조분석에 의한 부분스캔과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계 기술의 장단점을 비교ㆍ분석하여 통합함으로써 스캔플립프롭 선택 시간을 단축하고 고장 검출률을 높일 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 실험결과 대부분의 ISCAS89 벤치마크 회로에서 스캔플립프롭 선택 시간은 현격히 감소하였고 비교적 높은 고장 검출률을 나타내었다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 테스트 가능도에 의한 부분스캔
3. 구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔
4. 실험결과
5. 결론
참고문헌
저자소개
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1997 .11
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전자공학회논문지-SD
2000 .11
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1995 .01
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전자공학회논문지-SD
2002 .08
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한국산학기술학회 논문지
2019 .08
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회로 분할에 의한 부분 스캔
대한전자공학회 학술대회
1997 .06
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회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )
대한전자공학회 학술대회
1997 .07
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기판 검사를 위한 다중 스캔 경로 제어기의 설계 및 구현
정보과학회논문지(C)
1996 .12
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부분 스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발
전자공학회논문지-SD
2000 .11
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동시적 부분스캔 고장검출도 / 타이밍 최적화를 위한 논리변환 ( Logic Transformations for Concurrent Partial-scan Testability / Timing Optimization )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
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시험성 분석 기법 ( ITEM ) 의 부분 스캔 성능 평가 ( Partial Scan Performance Evaluation of Iterative Method of Testability Measurement ( ITEM ) )
전자공학회논문지-C
1998 .11
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1999 .11
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