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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2007도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2007.10
수록면
18 - 23 (6page)

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This paper explains an accelerated degradation test for metalized polypropylene capacitors which is primary use charge/discharge, coupling and decoupling etc. The dominant failure mode of the metalized polypropylene capacitors is decrease in capacitance that was caused by self-healing mechanism. In Accelerated Degradation Test (ADT), we estimated the amount of capacitance according to different test conditions of two acceleration stresses, temperature and voltage. So, we found that temperature affects self-healing mechanism more than voltage by ADT result. We have estimated the relation of life-stress, B₁?-life, two parameter of Weibull distribution and acceleration factor with ADT data.
#MPPF(메탈라이즈드 폴리프로필렌 필름) #Capacitance(정전용량) #Self-healing(셀프힐링) #Accelerated Degradation Test(가속열화시험)

목차

Abstract
1. 서론
2. MPPF 커패시터의 고상분석
3. 가속열화시험
4. 결론
참고문헌

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