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학술대회자료
저자정보
문창민 (한양대학교) 김두영 (한양대학교) 박성주 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2013년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2013.7
수록면
134 - 137 (4page)

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In this paper chain-based power-aware test compression technique is proposed, with low area overhead. Previous test compression techniques cause extreme power consumption in addition to area panalty. For test compression techniques, not only the compression ratio is important but also the power reduction, because the power consumption in test mode is critical to guarantee the reliability of the product. Proposed chain-based power-aware test compression technique reduces test power consumption significantly by reducing transitions in test vectors by exploiting don"t care bits. It also maintains test compression ratio, similar to previous techniques.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 구현
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-560-002399360