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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2013.11
- 수록면
- 1,027 - 1,033 (7page)
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본 논문에서는 고주파 이미징 시스템에 사용되는 D-band 이미징 검출기(imaging detector)를 65-㎚ CMOS 공정을 이용하여 설계 및 제작한 결과를 보인다. 검출기 회로 구조는 resistive self-mixing 원리에 기초를 두고 있다. 제작된 검출기는 145 ㎓에서 400 V/W의 최대 반응도(responsivity)와 100 pW/㎐<SUP>1/2</SUP>의 최소 NEP(Noise Equivalent Power)를 보였다. 제작된 회로의 크기는 측정용 패드와 밸룬을 포함하여 400㎛ × 450㎛이며, 중심 회로의 크기는 150㎛ × 100㎛이다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 고주파 검출기의 개요
Ⅲ. 회로 설계
Ⅳ. 측정 결과
Ⅴ. 결론
References
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - E. Ojefors / 2009 / A 0. 65 1Hz focal-plane array in a quartermicron CMOS process technology / IEEE Journal of Solid-State Circuits 44 : 1968 ~ 1976
2. [학술지(정기간행물)] - M. Chan / 1998 / A robust and physical BSIM3 non-quasi-static transient and AC small-signal model for circuit simulation / IEEE Transactions on Electron Devices 45 : 834841 ~
3. [학술대회논문] - Hyunchul Kim / 2012 / A 140-GHz fully differential common-source amplifier in 65nm CMOS / Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices
4. [학술지(정기간행물)] - J. Zhou / 2011 / A W-band CMOS receiver chipset for millimeter-wave radiometer system / IEEE Journal of Solid-State Circuits 46 : 378 ~ 391
5. [학술대회논문] - F. Schuster / 2011 / A broadband 1Hz imager in a low-cost CMOS technology / IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers : 42 ~ 43
2. [학술지(정기간행물)] - M. Chan / 1998 / A robust and physical BSIM3 non-quasi-static transient and AC small-signal model for circuit simulation / IEEE Transactions on Electron Devices 45 : 834841 ~
3. [학술대회논문] - Hyunchul Kim / 2012 / A 140-GHz fully differential common-source amplifier in 65nm CMOS / Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices
4. [학술지(정기간행물)] - J. Zhou / 2011 / A W-band CMOS receiver chipset for millimeter-wave radiometer system / IEEE Journal of Solid-State Circuits 46 : 378 ~ 391
5. [학술대회논문] - F. Schuster / 2011 / A broadband 1Hz imager in a low-cost CMOS technology / IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers : 42 ~ 43
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