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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.13 No.6
- 발행연도
- 2013.12
- 수록면
- 589 - 593 (5page)
이용수
초록· 키워드
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An efficient measurement methodology is proposed to construct the scattering parameters of a multi-port device using a four-port vector network analyzer (VNA) without the external un-terminated ports. By using the four-port VNA, the reflected waves from the un-terminated ports could be minimized. The proposed method significantly enhances the accuracy of the S-parameters with less number of measurements compared to the results of classical renormalization technique which uses twoport VNA. The proposed method is validated from the measured data with the coupled 8-port micro-strip lines.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. PROPOSED METHOD
III. MODEL VALIDATION
IV. CONCLUSIONS
REFERENCES
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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2015-560-001008797