핫플레이트를 이용한 OLED의 휘도열화특성 분석

김윤철; 이득중; 장중순

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김윤철 (아주대학교) 이득중 (LG display) 장중순 (아주대학교)

저널정보: 한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제16권 제4호

발행연도: 2016.12

수록면: 356 - 363 (8page)

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Purpose: The purpose of this study is to propose efficiency of equipment testing the luminance degradation of OLED.
Methods: The degradation model of Exponential model and Stretched exponential model is analyzed by goodness of fit test using calculated R-square. The degradation model having the higher R-square is finally selected. Scale parameter and Shape parameter using the selected degradation model is estimated. The activation energy and current density n using peck model among the accelerated model is estimated. the estimated parameters are analyzed by t-test.
Results: The results of t-test show that the estimated parameters on chamber and hotplate are equal statistically. we can know the similarity of the luminance degradation rate and degradation pattern on chamber and hotplate.
Conclusion: The result of the degradation test on chamber and hotplate is similar. when the accelerated degradation test on the panel of the OLED TV is performed, hotplate is requiring less samples, time and cost than chamber. so the accelerated degradation test on the panel of the OLED TV using the hoplate is efficient of time and cost.

#OLED TV Panel #Chamber #Hotplate #Luminance Degradation Rate

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[학술지(정기간행물)] - Shin, H. J / 2015 / Compensation and Driving Technology for OLED TV Implementation / Information display 16 (3) : 3 ~ 10

[학술지(정기간행물)] - 김관도 / 2012 / PECVD에 의한 OLED 소자의 Thin Film Passivation 특성 / Korean Chemical Engineering Research(HWAHAK KONGHAK) 50 (3) : 574 ~ 581

[단행본] - Park, D. H. / 2009 / Reliability Engineering / EnstaKorea : 100 ~ 110

[단행본] - Seo, S. K. / 2015 / Reliability Engineering / Kyobobook : 407 ~ 431

[학술대회논문] - Yu, K. H. / 2011 / Life Prediction System Implementation based on degradation model for LED chip degradation characterization / The Korean Reliability Society 2011 (6) : 79 ~ 85

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