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자료유형
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저자정보
이성수 (숭실대학교) 김창균 (모아소프트)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회지 電子工學會誌 第46卷 第1號(通卷 第416號)
발행연도
2019.1
수록면
39 - 45 (7page)

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목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. Stress로 인한 신뢰성 저하
Ⅲ. Acceleration Test
Ⅳ. AEC-Q100
Ⅴ. 전망과 결론
참고문헌

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