TFT-LCD영상에서 결함 가능성에 따른 순차적 결함영역 분할

장충환; 이승민; 박길흠

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자료유형: 학술저널

저자정보: 장충환 (비지안) 이승민 (경북대학교) 박길흠 (경북대학교)

저널정보: 한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제23권 제5호

발행연도: 2020.5

수록면: 633 - 640 (8page)

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Defect region segmentation of TFT-LCD images is performed by combining defect pixels detected by a defect detection method into defect region, or by using morphological operations to segment defect region. Therefore, the result of segmentation of the defect region is highly dependent on the defect detection result. In this paper, we propose a method which segments defect regions sequentially according to the possibility of being included in defect regions in TFT-LCD images. The proposed method repeats the process of detecting a seed using the median value and the median absolute deviation of the image, and segments the defect region using the seeded region growing method. We confirmed the superiority of the proposed method to segment defect regions using pseudo-images and real TFT-LCD images.

#TFT-LCD Image #Defect Possibility #Defect Detection #Defect Region Segmentation

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G.B. Lee, C.G. Lee, S.Y. Kim, and K.H. Park, “Adaptive Surface Fitting for Inspection of FPD Devices Using Multilevel B-spline Approximation,” Proceeding of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, pp, 205-208, 2006.

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