Cross-sectional TEM Specimens Priparation of Precisely Selected Regions of Semiconductor Devices using Focused Ion Beam Milling

김정태 ,  김호정 ,  조윤성 외 1명

한국재료학회지

1993 .01

박막 재료의 TEM 시편 준비법

정영우 ,  김현하 ,  이정수

한국재료학회 학술발표대회

1998 .01

질화물 반도체의 미세구조 분석을 위한 최적의 TEM 시편 준비법

조형균 ,  김동찬

한국재료학회지

2003 .01

Focused Ion Beam-assisted TEM 시편제작방법을 이용한 Submicron Contact의 불량분석

오영민 ,  김호정 ,  김정태

한국재료학회 학술발표대회

1993 .01

Study on Surface Damage of Specimen for Transmission Electron Microscopy (TEM) Using Focused Ion Beam(FIB)

김동식

전자공학회논문지-IE

2010 .06

TEM Cell의 이론과 응용

이애경 ,  김정기

전자파기술

1991 .06

개선된 성능을 가지는 4-포트 TEM 셀 설계

전상봉 ,  박승근 ,  김동호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

Nano 급 반도체 TEM 시료 제작 시, 미세 Pattern 변형에 대한 연구

한창우 ,  김종규 ,  이경우 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2013 .05

TEM CELL의 공진주파수 해석

이애경 ,  이상회 ,  김정기

한국통신학회 학술대회논문집

1991 .08

Current Techniques and Future Trends of TEM Sample Preparation in the Semiconductor and Micro-Electronics industries

정영우 ,  김현하 ,  이정수

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

TEM 관찰을 위한 고분자의 염색기술

인교진

고분자 과학과 기술

1996 .04

TEM 에 의한 고분자의 직접관찰

인교진 ,  십정수

고분자 과학과 기술

1996 .12

열전소자 기반 복사 냉방 패널의 최적배열 설계

임한솔 ,  리쓰잉 ,  천성용 외 2명

대한설비공학회 학술발표대회논문집

2018 .06

임펄스 응답 측정 시스템용 TEM 혼 안테나의 설계

정경호 ,  편성호 ,  정삼영 외 1명

한국전자파학회논문지

2003 .07

투과전자현미경분석용 박편 제작 시 집속이온빔에 의한 광물 손상

정기영

한국광물학회지

2015 .01

반도체 분석을 위한 TEM 기술의 응용

이정용

대한전자공학회 워크샵

1988 .01

TEM 모드에 기초한 새로운 방법의 고리형 공진기 해석 ( A new analysis of the ring resonator based on TEM mode analysis )

안달 ,  김인선 ,  신양균 외 3명

한국통신학회 학술대회논문집

1995 .01

TEM 모드에 기초한 새로운 방법의 고리형 공진기 해석 ( A new analysis of the ring resonator based on TEM mode analysis )

안달 ,  김인선 ,  신양균 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .05

시험영역 확장을 위한 TUBE-TYPE내부도체를 갖는 TEM-Cell에 관한 연구

한오형 ,  이중근

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

TEM CELL에서의 전자장 수치해석 ( Numerical Analysis of Electromagnetic Fields in TEM Cells )

이애경 ,  이상회 ,  김정기

전자파기술

1991 .03