Effect of Annealing Temperature on Electrical Properties and Stability of Si?Zn?Sn?O Thin Film Transistors Under Temperature Stress

황진영; 이상렬

doi:https://doi.org/10.1007/s42341-018-0011-2

추천

검색

자료유형: 학술저널

저자정보: 황진영 (청주대학교) 이상렬 (청주대학교)

저널정보: 한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제19권 제1호

발행연도: 2018.2

수록면: 15 - 20 (6page)

DOI: https://doi.org/10.1007/s42341-018-0011-2

이용수

📌

연구주제

📖

연구배경

🔬

연구방법

🏆

연구결과

초록· 키워드

오류제보하기

Silicon?zinc?tin?oxide (SZTO) thin film transistors (TFTs) were fabricated by radio frequency magnetron sputtering atroom temperature, and the influence of annealing temperature (400?600 C) on the electrical properties and the stability ofthe SZTO TFTs were investigated. As the annealing temperature was increased, the electrical properties, such as the fieldeffect mobility, on/off current ratio, and subthreshold swing enhanced because of increase in the carrier concentration anddecrease in the trap density. However, a conductor-like behavior was observed at 600 C owing to a high carrier concentration. The stability of the SZTO TFTs was measured in the temperature range of 300?333 K under temperature stress(TS). The DVTH was measured to be 5.5, and 2.81 V at annealing temperatures of 400 and 500 C, respectively. Theseresults indicate that defect states decreased and stability enhanced with increase in the annealing temperature because ofrearrangement of atoms caused by annealing. The relation between the electrical properties and the annealing temperaturewas also investigated using the transmission line method, and the total resistance was found to decrease with increase in theannealing temperature, which is in accordance with the result of TS.

#SZTO #Temperature stress #Annealing temperature #TLM

참고문헌 (18)

참고문헌 신청

T. Kamiya / 2010 / Sci. Technol. Adv. Mater. 11:044305

K. Nomura / 2004 / Nature (London) 432:488

K. Nomura / 2006 / Jpn. J. Appl. Phys. 45:4303

K.H. Ji / 2011 / Appl. Phys. Lett. 98:103509

J.M. Lee / 2008 / Appl. Phys. Lett. 93:093504

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

황진영

소속기관 청주대학교

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 6 이용수 14

이상렬

소속기관 청주대학교

주요연구분야 자연과학 > 물리학 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

논문수 21 이용수 748

최근 본 자료

전체보기

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	원문	원문 PDF 파일
AI 학습용 데이터	원문 + 메타 (기본/상세)	원문 PDF 파일 및 서지정보 CSV
대량 구매용 데이터	B2B 구독 방식	특정 자료 한정으로 원문 접근 권한 부여
대량 구매용 데이터	URL 전달 방식	바로 PDF 뷰어를 열람할 수 있는 URL 제공

구분	그룹	데이터 항목
AI 학습용 데이터	기본 메타	발행기관명, 간행물명, 권호명, 권(vol), 호(issue), 통권, 발행연도, 발행월, 논문명, 저자명, 시작페이지, 종료페이지, 전체페이지, 상세페이지URL
상세 메타 데이터	발행기관 메타	발행기관 이명, 영문명, 창립연도, 홈페이지URL, 발행기관 소개
	간행물 메타	부제목, 간행물 유형, ISSN, ISBN, 최초발행연도, 폐간연도, 간행빈도, 발행주기, 등재사항, 이용수, 피인용수, 권호수, 논문수, 표지이미지
	논문 메타	작성 언어, 부제목, 대등제목, 목차, 키워드, 초록, 이미지, 참고문헌, 이용수, 피인용수, 논문활용도, DBpia통합주제분류, KDC분류, DDC분류, 한국연구재단분류, UCI, DOI
	저자 메타	소속기관, 소속부서, 직급, 연구분야, 연구키워드, 이용수, 피인용수, 저자 논문활용도

구분	그룹	데이터 항목
※ 결합형/맞춤형 메타 데이터는 신청 내용에 따라 다양하게 제공 가능
이용순위 정보	주제분야별 많이 이용된 논문	“인문학”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	이용기관별 많이 이용된 논문	“중고등학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	세부기관별 많이 이용된 논문	“서울대학교”에서 많이 이용된 논문 TOP100
	키워드별 많이 이용된 논문	“Chat GPT”에서 많이 이용된 논문 TOP100
키워드 정보	많이 이용된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 이용된 키워드
	많이 발행된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 발행된 키워드
	많이 검색된 키워드	특정기간/분야/저널 내 많이 검색된 키워드
	연구 트렌드 키워드	특정 키워드 연관 연구동향 분석 데이터 키워드

논문 기본 정보

초록· 키워드

AI 요약

연구주제

연구배경

연구방법

연구결과

주요내용

목차

참고문헌 (18)

함께 읽어보면 좋을 논문

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

댓글(0)