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저자정보
Seungjik Lee (Pusan National University) Ockgoo Lee (Pusan National University) Ilku Nam (Pusan National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.23 No.2
발행연도
2023.4
수록면
128 - 137 (10page)
DOI
10.5573/JSTS.2023.23.2.128

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Silicon carbide (SiC) metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs) are commonly used in the power transistor industry owing to their superior conductivity, low switching loss, high-frequency operation, and desirable thermal characteristics. However, the short-circuit withstand time of SiC MOSFETs is shorter than that of Si devices, which is disadvantageous in fault states. Gate drivers for SiC MOSFETs require short-circuit protection and soft termination circuits to detect short circuits and protect the power devices and systems from a short-circuit state. Thus, short-circuit protection circuits for SiC MOSFETs are reviewed in this paper. Accordingly, short-circuit detection circuits classified according to gate-source voltage (VGS), drain-source voltage (VDS), and drain-source current (IDS) detection methods are discussed. Moreover, the merits and demerits of soft termination circuits are reviewed.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. SHORT CIRCUIT PROTECTION CIRCUITS
III. SOFT TERMINATION CIRCUITS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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