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저자정보
장병옥 (성균관대학교) 곽호진 (성균관대학교) 김창현 (성균관대학교) 이강윤 (성균관대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2024년도 대한전자공학회 추계학술대회 논문집
발행연도
2024.11
수록면
437 - 441 (5page)

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This paper presents a novel automatic calibration method to enhance the reliability of the low-pass filter. The method compensates for both the resistor and capacitor using low-resolution trimming bits. Although there may be concerns about accuracy due to the use of low resolution, the resistor and capacitor are adjusted within a single circuit, complementarily correcting each other's errors to maintain a constant RC product. As a result, the filter's reliability is significantly improved. Additionally, the low-resolution approach and the use of a simple digital block offer advantages in terms of area efficiency. The proposed circuit was designed using the 40nm TSMC process. Measurements of the filter's cutoff frequency show an accuracy within 1.58%, despite temperature and process variations. The power consumption of the circuit is 45.5 μW.

목차

Abstract
I. 서론
II. 본론
III. 구현
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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