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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2005 가을 학술발표 문집(Ⅰ)제32 제2호
발행연도
2005.11
수록면
835 - 837 (3page)

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이동기기들이 늘어가고 있는 추세에서 기기들의 구성품인 디지털 회로들의 테스트 시간과 전력소모는 성능에 상당한 영향을 미친다. 테스트 시간을 줄이는 방법은 병렬 코어 테스트 방법으로 줄일 수 있으나, 다양한 코어들이 동시에 테스트 되면 많은 전력 소모를 야기 시킨다. 스캔 구조를 기반으로 한 회로에서 전력 소모는 테스트 데이터의 불필요한 천이에 의해 많이 발생한다. ... 전체 초록 보기

목차

요약
1. 서론
2. 기본적인 개념
3. 이전 연구
4. 동기
5. 실험결과
6. 결론
참고문헌

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